DUT:常用工程/测试缩写,指被测设备/被测对象(Device Under Test),即正在进行测量、验证或性能评估的那台设备、模块或系统。(在不同领域也可能有其他含义,但在电子与测试工程中最常见的是此义。)
/ˌdiː juː ˈtiː/
The DUT failed the power-on test.
这台被测设备在上电测试中未通过。
After calibrating the instruments, we ran a thermal stress cycle on the DUT to verify stability across the full temperature range.
在校准仪器后,我们对被测对象进行了热应力循环测试,以验证其在全温度范围内的稳定性。
DUT 来自英语短语 Device Under Test 的首字母缩写。测试与计量场景中需要区分“测试仪器/测试系统”和“被测试的产品”,因此该缩写在报告、流程与自动化脚本里广泛使用。